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德國(guó)FISCHER |
雙功能涂鍍層測(cè)厚儀
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A1531890 |
技術(shù)參數(shù)A1531890A1531891鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層可以可以鋼和鐵上的油漆、瓷漆或塑料涂層可以可以非鐵金屬上的油漆、陽(yáng)極氧化層、瓷漆或塑料涂層… |
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46666 |
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德國(guó)FISCHER |
涂鍍層測(cè)厚儀
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A1531892 |
儀器平臺(tái)應(yīng)用軟基基于MSWindowsCE顯示器明亮圖形顯示器(彩色、觸摸屏)鍵盤/操作4個(gè)薄膜開(kāi)關(guān),軟鍵盤,最多12個(gè)軟鍵探頭連接器10針插座通訊界面U… |
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39465 |
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德國(guó)FISCHER |
臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀
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A1531899 |
主機(jī)型號(hào):BASEUNITMMS3AM(臺(tái)式)(A1531899)模塊型號(hào):PERMASCOPEMMSPLUG-INMODULE,A1531900NICKELSCOPEMMSPLUG-INMODULE,A1531901SIGASCOPEMM… |
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51410 |
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德國(guó)FISCHER |
線路板綜合測(cè)試儀
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A1531910 |
顯示:采用126x70mm(5.0”x2.75”)帶背光的高清晰度液晶點(diǎn)陣顯示,可顯示各種數(shù)據(jù)和圖形。數(shù)據(jù)儲(chǔ)存:儀器可儲(chǔ)存20,000個(gè)數(shù)據(jù),可設(shè)置50個(gè)應(yīng)用程… |
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71115 |
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中國(guó) |
測(cè)厚儀
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A1535159 |
探頭A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156測(cè)量原理磁性渦流測(cè)量范圍(μm)0~4000~12500~10mm0~4000~1250010~200測(cè)量… |
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5800 |
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中國(guó) |
測(cè)厚儀
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A1535158 |
探頭A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156測(cè)量原理磁性渦流測(cè)量范圍(μm)0~4000~12500~10mm0~4000~1250010~200測(cè)量… |
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7800.00 |
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中國(guó) |
涂層測(cè)厚儀
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A1531976 |
采用磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,配F型測(cè)頭可無(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基本體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、… |
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11850 |
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中國(guó) |
高精度覆層測(cè)厚儀
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A1535149 |
探頭A1535150A1535151A1535152A1535153A1535154A1535155A1535156測(cè)量原理磁性渦流測(cè)量范圍(μm)0~4000~12500~10mm0~4000~1250010~200測(cè)量… |
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德國(guó)尼克斯 |
涂層測(cè)厚儀
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A1501013 |
型號(hào)A1501013A1501014基體FeFe/NFe探頭形式一體顯示LCD數(shù)字顯示測(cè)量范圍0-3000μmFe:0-3000μmNFe:0-3000μm測(cè)量精度0-50μm:≤±1μm,50-… |
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6900 |
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中國(guó) |
測(cè)厚儀
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A1535160 |
探頭A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156測(cè)量原理磁性渦流測(cè)量范圍(μm)0~4000~12500~10mm0~4000~1250010~200測(cè)量… |
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德國(guó)EPK |
磁性圖層測(cè)厚儀
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A1501015 |
1.測(cè)量范圍:0-100um0-1000um2.被測(cè)物的基體材料:普通碳素鋼3.涂層材料:非磁性金屬材料和油漆,搪瓷,塑料等. |
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6500 |
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德國(guó)尼克斯 |
涂層測(cè)厚儀
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A1501026 |
■測(cè)量精度:0-2000μm:≤±2%;2000-5000μm:≤±3%■最小基體:Fe:20mm×20mm;NFe:20mm×20mm■最薄基體:Fe:0.2mm;NFe:0.05mm■最… |
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德國(guó)Qnix |
涂層測(cè)厚儀
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A1530732 |
技術(shù)參數(shù)磁性基體Fe探頭(A1530732/A1530733)非磁性基體NFe探頭(A153073)測(cè)量范圍A1530732:0-2000umA1530733:0-5000um精度0-50um:≤±1um50-10… |
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7500 |
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德國(guó)Qnix |
涂層測(cè)厚儀
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A1530734 |
基體Fe、NFe、NFe\NFe探頭形式一體、分體顯示LCD液晶顯示測(cè)量范圍0-2000μm0-5000μm測(cè)量精度0-2000μm:≤±2%2000-5000μm:≤±3%最小基… |
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7475 |
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德國(guó)QNIX |
金屬涂層測(cè)厚儀
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A1532016 |
基體Fe/NFe探頭形式無(wú)線分體顯示LCD數(shù)字顯示測(cè)量范圍0-5000μm測(cè)量精度0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,200… |
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17075 |
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日本精工 |
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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A1532021 |
檢測(cè)器比例計(jì)數(shù)管X射線源空冷式小型X射線管準(zhǔn)直器0.1、0.2mmφ2種樣品觀察CCD攝像頭樣品臺(tái)移動(dòng)量250(X)×200(Y)mm樣品最大高度150mm |
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日本精工 |
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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A1532022 |
可測(cè)量元素原子序數(shù)13(Al)~83(Bi)X射線聚光聚光方式X射線源管電壓50kV管電流1mA檢測(cè)器Vortex®檢測(cè)器(無(wú)需液氮)分析范圍Φ0.1mm、Φ5mm樣品觀… |
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日本精工 |
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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A1532023 |
測(cè)定元素原子序號(hào)22(Ti)~83(Bi)X射線管管電壓:50kV管電流:1.5mA檢測(cè)器半導(dǎo)體檢測(cè)器+比例計(jì)數(shù)管準(zhǔn)直器4種(0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ)樣品… |
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日本精工 |
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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A1532024 |
射線源空冷式小型X射線管準(zhǔn)直器□型0.025x0.2mm,0.2x0.025mm○型0.05mm,0.1mm,0.2mmφ樣品表示倍率(CRT上)最大4倍可變焦距樣品平臺(tái)移動(dòng)量:220(… |
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日本精工 |
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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A1532025 |
射線源空冷式小型X射線管準(zhǔn)直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ樣品觀察CCD照相機(jī)過(guò)濾器Co:自動(dòng)切換樣品平臺(tái)移動(dòng)量:220(X)x150… |
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