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美國(guó)CHECK-LINE | 雙功能涂層測(cè)厚儀 | A1531165 | 量程：磁性基體：0-140mils(0-3500um)非磁性基體：0-120mils(0-3000um)精度：±3%分辨率：1μm(0-999μm);2μm(1000-2498μm);5μm(2498-3000μm)… | 洽詢(xún) | 洽詢(xún) |
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