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沖擊試樣缺口投影儀概述

1、本投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺
口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學儀器，CST-50型沖擊試樣缺

口投影儀是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口標準樣板圖對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是

否合格，其優(yōu)點是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。

2、對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（試樣缺口深2mm、呈45º角且試樣缺口尖端要求

R0.25±0.25），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合

格，那么其試驗的結果是不可信的，特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化（其公差帶只有0.25mm）都會引起試驗結果的
陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對缺
口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。